M851 – Manufacturing Systems 4

Module
Manufacturing Systems 4
Fertigungssysteme 4
Module number
M851 [MPw 12]
Version: 1
Faculty
Mechanical Engineering
Level
Diploma
Duration
1 Semester
Semester
Winter semester
Module supervisor

Prof. Dr.-Ing. Thomas Himmer
thomas.himmer(at)htw-dresden.de
Lecturer(s)

Prof. Dr.-Ing. Gunther Naumann
gunther.naumann(at)htw-dresden.de
Course language(s)

German
in "Fertigungssysteme 4"
ECTS credits

3.00 credits

Workload

90 hours

Courses

2.00 SCH (2.00 SCH Lecture)
Self-study time

60.00 hours

Pre-examination(s)
None
Examination(s)

Written examination
Examination time: 90 min | Weighting: 100%
in "Fertigungssysteme 4"
Form of teaching
  • Vorlesung
Media type
No information
Instruction content/structure
  • Messtechnik und Computer / Einführung
    • Stand/Trend in der Messtechnik / Maschinenbau, Fahrzeugtechnik, Verfahrenstechnik
    • Problemkreis Sensor
    • Computer / Virtuelle Instrumente / Messdatenerfassung (DAQ) / Messdatenverarbeitung / Messdatenpräsentation
  • Sensor und Computer / Von der Messgröße zur Zahl
    • Computerintegrierte Messkette / Vom Prozess zum Computer
    • Analoge Messgrößenerfassung / Verstärkung, Filterung, ADU (Abtastung, Quantisierung), Fehlerbetrachtung (Auflösung, LSB, Aliasing)
    • Digitale Messgrößenerfassung / Inkrementale und absolut-codierende Messverfahren
  • Computer / Wirkungsweise, Programmierung, Applikation
    • Mikroprozessoren, Mikrocontroller, Intel Pentium, AMD Athlon
    • Personal-, Bordcomputer / IBM, SIEMENS, KraussMaffei
    • Speicherverwaltung und Adressierung / Bussysteme / Interne, externe Prozessschnittstellen
    • Programmierung und Programmiersprachen / Fachspezifische Hochsprachen Computer / Messdatenerfassung über Prozessschnittstellen
    • Computer-Multifunktionskarte (NI PCI-6014, National Instruments) Hard und Software
    • Computer-Standard-Schnittstellen / RS 232, IEEE 488. USB, u.a.
  • Computer / Messdatenverarbeitung / Datenpräsentation
    • Messtechnik-Standard-Software “TestPoint”, “LabVIEW“, „DIAdem“
    • Messdatenerfassung (DAQ), Messdatenaufbereitung, Messdatenanalyse und Messdatenpräsentation
    • Prozessnahe Aufgaben / Labor / Industrie / Fahrzeug
  • Messtechnische Praktika
    • CMT I mit LabVIEW / Analoge Messdatenerfassung von Prozessgrößen / Messverfahren und Messdynamik
    • CMT II mit LabVIEW / Analoge Messdatenerfassung am Beispiel der Temperaturmesstechnik / Wert- und Zeitquantisierung
    • CMT III / Digitale Messdatenerfassung mit LabVIEW / Inkrementale und Code-Messverfahren
Qualification objectives
  • Beherrschung der Grundlagen der Computerintegrierten Messtechnik: Messstatik und Messdynamik, Fehlertheorie und Anwendung in der Praxis, Messstrukturen mit Computerkopplung, Computerstrukturen 
  • Beherrschung technisch und wirtschaftlich optimierter computerintegrierter Messverfahren und Sensorik bei entsprechender Prozessanalyse 
  • Projektierung von computergestützten Messsystemen für Maschinen, Anlagen und Prüfstände (Hard- und Software) 
  • Beherrschung der Grundlagen der Messtechnik-Computersprache LabVIEW zur Messdatenerfassung, Messdatenaufbereitung und Messdatenanalyse (insbesondere mathematische Analyseverfahren)
Social and personal skills
No information
Special admission requirements
No information
Recommended prerequisites

Fertigungssysteme 1-3

  • Fertigungssysteme 1.1
  • Fertigungssysteme 1.2
Continuation options
No information
Literature
  • Schrüfer, E.: Elektrische Messtechnik, Carl Hanser Verlag München, Wien, 2004.
  • Hofmann, J.; Trentmann, W.: Praxis der PC-Messtechnik, Carl Hanser Verlag, München Wien, 2003.
  • Jamal, R.: LabVIEW für Studenten, Verlag Pearson Studium, 2004.
  • Mrowka, J.: Lehrbrief Computerintegrierte Messtechnik mit LabView.
Current teaching resources

Lehrmaterial und Einschreiblisten sind über die Lehr- und Lernplattform OPAL verfügbar

⇒ Link zum OPAL-Katalog der Fakultät Maschinenbau
Notes
No information
Link to course/learning resources in OPAL
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