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M851 – Fertigungssysteme 4
Manufacturing Systems 4
Version: 1
Prof. Dr.-Ing. Thomas Himmer
thomas.himmer(at)htw-dresden.de
Prof. Dr.-Ing. Gunther Naumann
gunther.naumann(at)htw-dresden.de
Deutsch
3.00 Credits
90 Stunden
2.00 SWS (2.00 SWS Vorlesung)
60.00 Stunden
Schriftliche Prüfungsleistung
Prüfungsdauer: 90 min | Wichtung: 100 %
- Vorlesung
- Messtechnik und Computer / Einführung
- Stand/Trend in der Messtechnik / Maschinenbau, Fahrzeugtechnik, Verfahrenstechnik
- Problemkreis Sensor
- Computer / Virtuelle Instrumente / Messdatenerfassung (DAQ) / Messdatenverarbeitung / Messdatenpräsentation
- Sensor und Computer / Von der Messgröße zur Zahl
- Computerintegrierte Messkette / Vom Prozess zum Computer
- Analoge Messgrößenerfassung / Verstärkung, Filterung, ADU (Abtastung, Quantisierung), Fehlerbetrachtung (Auflösung, LSB, Aliasing)
- Digitale Messgrößenerfassung / Inkrementale und absolut-codierende Messverfahren
- Computer / Wirkungsweise, Programmierung, Applikation
- Mikroprozessoren, Mikrocontroller, Intel Pentium, AMD Athlon
- Personal-, Bordcomputer / IBM, SIEMENS, KraussMaffei
- Speicherverwaltung und Adressierung / Bussysteme / Interne, externe Prozessschnittstellen
- Programmierung und Programmiersprachen / Fachspezifische Hochsprachen Computer / Messdatenerfassung über Prozessschnittstellen
- Computer-Multifunktionskarte (NI PCI-6014, National Instruments) Hard und Software
- Computer-Standard-Schnittstellen / RS 232, IEEE 488. USB, u.a.
- Computer / Messdatenverarbeitung / Datenpräsentation
- Messtechnik-Standard-Software “TestPoint”, “LabVIEW“, „DIAdem“
- Messdatenerfassung (DAQ), Messdatenaufbereitung, Messdatenanalyse und Messdatenpräsentation
- Prozessnahe Aufgaben / Labor / Industrie / Fahrzeug
- Messtechnische Praktika
- CMT I mit LabVIEW / Analoge Messdatenerfassung von Prozessgrößen / Messverfahren und Messdynamik
- CMT II mit LabVIEW / Analoge Messdatenerfassung am Beispiel der Temperaturmesstechnik / Wert- und Zeitquantisierung
- CMT III / Digitale Messdatenerfassung mit LabVIEW / Inkrementale und Code-Messverfahren
- Beherrschung der Grundlagen der Computerintegrierten Messtechnik: Messstatik und Messdynamik, Fehlertheorie und Anwendung in der Praxis, Messstrukturen mit Computerkopplung, Computerstrukturen
- Beherrschung technisch und wirtschaftlich optimierter computerintegrierter Messverfahren und Sensorik bei entsprechender Prozessanalyse
- Projektierung von computergestützten Messsystemen für Maschinen, Anlagen und Prüfstände (Hard- und Software)
- Beherrschung der Grundlagen der Messtechnik-Computersprache LabVIEW zur Messdatenerfassung, Messdatenaufbereitung und Messdatenanalyse (insbesondere mathematische Analyseverfahren)
Fertigungssysteme 1-3
- Fertigungssysteme 1.1
- Fertigungssysteme 1.2
- Schrüfer, E.: Elektrische Messtechnik, Carl Hanser Verlag München, Wien, 2004.
- Hofmann, J.; Trentmann, W.: Praxis der PC-Messtechnik, Carl Hanser Verlag, München Wien, 2003.
- Jamal, R.: LabVIEW für Studenten, Verlag Pearson Studium, 2004.
- Mrowka, J.: Lehrbrief Computerintegrierte Messtechnik mit LabView.
Lehrmaterial und Einschreiblisten sind über die Lehr- und Lernplattform OPAL verfügbar
⇒ Link zum OPAL-Katalog der Fakultät Maschinenbau